手持式光數(shù)字繼電保護(hù)測(cè)試儀廠(chǎng)家

產(chǎn)品特點(diǎn)
    •5.7寸電容式多點(diǎn)觸摸屏，內(nèi)置11000mAh大容量可充電鋰電池，續(xù)航時(shí)間大于6小時(shí)；
    •3對(duì)光纖以太網(wǎng)口、1對(duì)光纖串口、1個(gè)IRIG-B/PPS同步接口，支持單纖連接;
    •光纖以太網(wǎng)口采用G網(wǎng)口，100/1000Mbits/s自適應(yīng)；
    •2路硬開(kāi)入接點(diǎn)、2路硬開(kāi)出接點(diǎn)，用于智能終端響應(yīng)時(shí)間測(cè)試；
    •支持USB存儲(chǔ)設(shè)備接入，方便導(dǎo)入導(dǎo)出數(shù)據(jù)；
    •支持IEC61850-9-1/2/LE、Goose、IEC60044-7/8 FT3、MMS、STNP、GRMP、IEEE-1588、IRIG-B、PPS、SCL等標(biāo)準(zhǔn)；
    •集多種功能于一體，輕松完成間隔層、過(guò)程層的保護(hù)測(cè)控裝置、合并單元、智能終端、互感器測(cè)試；
    •圖表顯示各種電氣參數(shù)，用戶(hù)不需要關(guān)心報(bào)文解析細(xì)節(jié)，直接查看結(jié)果；
    •A9+FPGA雙核工業(yè)計(jì)算機(jī)性能，運(yùn)算速度快，報(bào)文發(fā)送離散度<0.1us，報(bào)文接收時(shí)標(biāo)誤差<25ns；
    •小巧精致，攜帶方便，測(cè)試簡(jiǎn)單；

 

◆手持式光數(shù)字繼電保護(hù)測(cè)試儀廠(chǎng)家

產(chǎn)品功能
    •SCD解析：支持SCL文件（SCD、ICD、CID）文件導(dǎo)入、解析、存儲(chǔ)；
    •報(bào)文探測(cè)：支持IEC61850-9-1/2/LE、Goose、IEC60044-7/8 FT3報(bào)文自動(dòng)探測(cè)與解析，并自動(dòng)與SCL文件進(jìn)行匹配，標(biāo)記不匹配項(xiàng)；
    •SV/FT3報(bào)文監(jiān)視：提供波形、幅值、相位、品質(zhì)、頻率、諧波含量、丟幀統(tǒng)計(jì)、離散度、異常報(bào)文告警等多種分析功能，支持報(bào)文重新采樣；
    •Goose報(bào)文監(jiān)視：提供狀態(tài)、變位記錄、品質(zhì)、丟幀、異常報(bào)文告警等多種分析功能，支持Goose發(fā)送機(jī)制檢測(cè)；
    •Goose發(fā)布測(cè)試：提供Goose報(bào)文直接發(fā)布測(cè)試（虛端子測(cè)試）；
    •電流電壓測(cè)試：提供9路電流、9路電壓加量、8路開(kāi)出、8路開(kāi)入測(cè)試，可手動(dòng)調(diào)節(jié)、自動(dòng)遞變，并分析測(cè)試結(jié)果；
    •狀態(tài)序列測(cè)試：提供多狀態(tài)連續(xù)輸出測(cè)試，支持短路模型計(jì)算，支持多種切換方式，支持IRIG-B碼同步觸發(fā)；
    •提供多種保護(hù)/測(cè)控裝置的測(cè)試模塊：定值校驗(yàn)、差動(dòng)保護(hù)、諧波疊加、備自投等；
    •光口流量測(cè)試：光口實(shí)時(shí)流量、峰值流量、平均流量測(cè)試；
    •核相測(cè)試：支持多組SV報(bào)文通道核相測(cè)試；
    •極性測(cè)試：支持直流法測(cè)試電子式互感器、變壓器極性測(cè)試；
    •光功率測(cè)試：集成光功率檢測(cè)功能，可實(shí)時(shí)在線(xiàn)測(cè)量光以太網(wǎng)發(fā)送及接收光信號(hào)功率；
    •VLAN測(cè)試：提供光交換機(jī)VLAN測(cè)試；
    •MMS測(cè)試：MMS報(bào)文收發(fā)測(cè)試；
    •抓包與回放：網(wǎng)絡(luò)報(bào)文抓包分析與PCAP回放測(cè)試；
    •SOE測(cè)試：智能終端SOE響應(yīng)時(shí)間測(cè)試；
    •網(wǎng)絡(luò)壓力測(cè)試：100~1000M網(wǎng)絡(luò)壓力測(cè)試；
    •異常報(bào)文模擬測(cè)試：SV/GS丟幀、錯(cuò)序、錯(cuò)值、雙A/D不一致、抖動(dòng)等異常報(bào)文輸出測(cè)試；

光數(shù)字繼電保護(hù)測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)